全彩LED顯示屏具有高可靠性和長壽命的優點，在實際生產研發過程中，需要通過壽命試驗對LED芯片的可靠性水平進行評價，并通過質量反饋來提高LED芯片的可靠性水平，以保證LED芯片質量，為此我司在實現全色系LED產業化的同時，開發了LED芯片壽命試驗的條件、方法、手段和裝置等，以提高壽命試驗的科學性和結果的準確性。
電子產品在規定的工作及環境條件下，進行的工作試驗稱為壽命試驗，又稱耐久性試驗，隨著LED生產技術水平的提高，產品的壽命和可靠性大為改觀，LED的理論壽命為10萬小時，如果仍采用常規的正常額定應力下的壽命試驗，很難對產品的壽命和可靠性做出較為客觀的評價，而我們試驗的主要目的是，通過壽命試驗掌握LED芯片光輸出衰減狀況，進而推斷
全彩LED顯示屏壽命。我們根據LED器件的特點，經過對比試驗和統計分析，最終規定了0.3×～0.3mm2以下芯片的壽命試驗條件：
1、樣品隨機抽取，數量為8～10粒芯片，制成ф5單燈；
2、工作電流為30mA；
3、環境條件為室溫（25℃±5℃）；
4、試驗周期為96小時、1000小時和5000小時三種；
全彩LED顯示屏工作電流為30mA是額定值的1.5倍，是加大電應力的壽命試驗，其結果雖然不能代表真實的壽命情況，但是有很大的參考價值；壽命試驗以外延片生產批為母樣，隨機抽取其中一片外延片中的8~10粒芯片，封裝成ф5單燈器件，進行為96小時壽命試驗，其結果代表本生產批的所有外延片，一般認為，試驗周期為1000小時或以上的稱為長期壽命試驗，生產工藝穩定時，1000小時的壽命試驗頻次較低，5000小時的壽命試驗頻次可更低。
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